VLSI 測試系統(tǒng)
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產品名稱: VLSI 測試系統(tǒng)
產品型號: 3380D
產品展商: Chroma
產品文檔: 無相關文檔
簡單介紹
50/100 MHz測試頻率
50/100 Mbps數據速率
256數字信道管腳
并行測試可達256 sites同測數
32/64/128 M Pattern內存
多樣彈性VI電源
彈性化硬件結構 (可互換式 I/O, VI, ADDA)
Real parallel Trim/Match功能
時序頻率測試單位 (TFMU)
AD/DA功能板卡 (16/24 bits) (可選配)
SCAN向量存儲深度(*高 2G bits/chain) (可選配)
ALPG測試選配供內存IC用
STDF工具支持
測試程序/pattern轉換器 (J750, D10, V50,E320, SC312, V7, TRI-6020, ITS9K)
人性化Window 7操作系統(tǒng)
CRAFT C/C++ 程序語言
軟件接口與3380P/3360P相同
Direct mount治具
VLSI 測試系統(tǒng)
的詳細介紹
產品特色
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50/100 MHz測試頻率
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50/100 Mbps數據速率
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256數字信道管腳
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并行測試可達256 sites同測數
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32/64/128 M Pattern內存
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多樣彈性VI電源
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彈性化硬件結構 (可互換式 I/O, VI, ADDA)
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Real parallel Trim/Match功能
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時序頻率測試單位 (TFMU)
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AD/DA功能板卡 (16/24 bits) (可選配)
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SCAN向量存儲深度(*高 2G bits/chain) (可選配)
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ALPG測試選配供內存IC用
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STDF工具支持
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測試程序/pattern轉換器 (J750, D10, V50,E320, SC312, V7, TRI-6020, ITS9K)
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人性化Window 7操作系統(tǒng)
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CRAFT C/C++ 程序語言
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軟件接口與3380P/3360P相同
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Direct mount治具可相容于3360P probe-card
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Cable mount治具可相容于3360D與3360P
為因應未來IC芯片腳位數更多、速率更高、整合功能更為復雜的發(fā)展驅勢，Chroma VLSI測試系統(tǒng)3380D/3380P/3380除采用更彈性架構外，整合密度更高，且功能更強大。
3380D/3380P/3380機型為因應高同測功能(High Parallel Test)，除內建獨特的4-wire功能高密度IC電源(VI source)外，更具備any-pins-to-any-site高同測功能(256數字信道管可并行測256個測試芯片)，以因應未來IC芯片更高的測試需求。
3380D/3380P/3380系列同時具備機框式直流電源供應的小型化、低耗能化設計及非常具競爭性的機臺性價比。
3380D VLSI測試系統(tǒng)非常適合應用于IoT相關的芯片測試，尤其是一些具成本壓力的組件如整合功能之MCU、MEMS等，VLSI測試系統(tǒng)3380D/3380P/3380系列開發(fā)至今，已在大中華地區(qū)被廣泛的采用。
滿足各種應用范圍的芯片測試
如Logic, ADDA, RF(MCU), LED, Power, ALPG, Match等
